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針式掃描原子力顯微鏡的性能特點和廣泛應(yīng)用途徑

更新時間:2023-04-07瀏覽:1048次

  針式掃描原子力顯微鏡是一種利用量子隧穿現(xiàn)象的顯微鏡,可以進行原子級的表面成像。核心部分是一個非常尖銳的針,一端與被測樣品表面相距約0.1納米。當針尖靠近樣品表面時,電勢差將導(dǎo)致電流從針尖向樣品表面流動。通過控制電流的大小,可以得出樣品表面的形狀信息。能夠?qū)崿F(xiàn)原子級別的成像,不僅可以觀察單個原子和分子的結(jié)構(gòu),還可以研究它們在表面上的排布和移動規(guī)律。因此,STM被廣泛應(yīng)用于表面物理、表面化學、材料科學等領(lǐng)域的研究。
  
  針式掃描原子力顯微鏡是一種高精度、高分辨率的儀器,廣泛應(yīng)用于物質(zhì)科學、生命科學、納米制造等領(lǐng)域。隨著使用時間的增長,AFM的性能會逐漸下降,因此維護和保養(yǎng)是保證其正常工作和延長壽命的關(guān)鍵。
  
  1.清洗探針
  
  探針是AFM的核心部件,其質(zhì)量和形狀對儀器的性能和分辨率有重要影響。使用過程中,探針表面容易受到樣品里的微粒子、化學物質(zhì)、沉積物等污染,導(dǎo)致探針性能下降甚至損壞。因此,定期清洗探針是必要的。
  
  清洗探針時,應(yīng)用清潔無紡布或純棉布蘸上去離子水或特定的清洗液(具體根據(jù)探針材質(zhì)和污染物不同)擦拭探針表面。注意不要使用化學物質(zhì)或磨粉等物質(zhì)清洗探針,以免損壞探針的結(jié)構(gòu)和表面狀態(tài)。
  
  2.維護掃描頭和樣品臺
  
  掃描頭和樣品臺是AFM的另外兩個關(guān)鍵部件。使用過程中,存在可能損傷探針的風險,同時很多掃描頭需要配套使用散熱器來保證正常工作溫度,樣品臺也會受到溫度、濕度變化影響,因而需要進行定期維護和保養(yǎng)。
  
  維護掃描頭:打開掃描頭部分,可以看到掃描頭內(nèi)齒輪、擺臂等,使用特定清洗液或者物理方法(如干燥或者吹掃)清理其中的灰塵或者雜質(zhì),并定期加潤滑油以保證其靈敏度和機械特性。
  
  維護樣品臺:樣品臺是安放樣品的平臺,因為其直接貼近樣品,所以需要時時監(jiān)測其表面和環(huán)境溫濕度,以避免樣品接觸高溫或者過于潮濕的空氣。
  
  3.校準AFM參數(shù)
  
  AFM的操作過程中需要對其進行定期校準,以保證其各種參數(shù)如精度、靈敏度、掃描速度等都達到最佳狀態(tài)。
  
  常規(guī)校準:在啟動或者間歇保護時間斷開時,應(yīng)該完成常規(guī)標準(如偏移,掃描范圍)的校準。
  
  校準環(huán)境:在環(huán)境溫度變化較大的情況下,AFM的各個參數(shù)可能會受到影響,需要通過校準溫度傳感器調(diào)整溫度,確保AFM的精度和分辨率保持一致。

 

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